| 내 용 |
[주 문]
○○세관장이 2006.4.10. 청구법인에게 한 관세 ○○○원, 부가가치세 ○○○원, 가산세 ○○○원, 경정처분은 이를 취소한다.
[이 유]
1. 처분개요
청구법인은 수입신고번호 31818-05-○○○○호(2005.2.17)외 1건으로 In Circuit Test System(이하 "쟁점물품"이라 한다)을 반도체 웨이퍼나 소자 측정기 또는 검사용 기기가 분류되는 HSK 9030.82-0000호(WT0 양허관세율 0%)로 수입신고하여 수리를 받았다.
처분청은 2005.10.21. 쟁점물품이 반도체 소자와 축전기 등이 장착된 인쇄회로기판의 측정기로서 HSK 9030.83-0000호(기본관세율 8%)에 분류된다는 사후심사결과를 통보하였고, 청구법인은 2005.11.14. 관세평가분류원에 품목분류 사전심사를 신청하였으며, 관세평가분류원은 2006.1.12. 쟁점물품이 인쇄회로기판에 장착된 개별 전자부품의 전기적 특성을 검사하여 양·불량을 판정하는 기기에 해당된다고 하여 HSK 9030.83-0000호로 분류결정(품목분류과-106336)하였다.
이에 따라 처분청은 2006.1.20. 차액관세를 징수하기 위하여 과세전통지를 하였으며, 청구법인이 2006.2.9. 제기한 과세전적부심사청구에 대하여 관세청은 2006.3.30. 관세품목분류위원회를 개최하여 쟁점물품을 HSK 9030.83-0000호로 분류결정하는 한편 2006.4.5. 청구법인의 과세전적부심사청구를 채택하지 아니함에 따라 처분청은 2006.4.10. 관세 ○○○원, 부가가치세 ○○○원, 가산세 ○○○원, 합계 ○○○원을 경정고지하였다.
청구법인은 이에 불복하여 2006.6.26. 심판청구를 제기하였다.
2. 청구법인 주장 및 처분청 의견
가. 청구법인 주장
쟁점물품은 인쇄회로기판에 장착된 개별 전자요소(Individual Electronic Element)인 반도체소자의 오류 또는 결항을 측정하는 기기로서 반도체소자(Semiconductor Device)는 인쇄기판에 장착된 반도체소자(능동소자)와 이를 보정·연결하고 있는 수동소자를 포함하는 것을 의미하며, 검사대상물품으로서 반도체 칩이 장착된 인쇄회로기판 전체를 반도체디바이스로 보아야 하므로 쟁점물품은 반도체소자의 측정 또는 검사용기기가 분류되는 HSK 9030.82-0000호(양허관세율 0%)에 해당된다.
또한, 동종의 측정기기에 대하여 미국 관세청은 HS 9030.82호로 분류하고 있으므로 세계관세기구(WCO)회원국으로서 HS 분류체계를 사용하고 있는 우리나라가 HS 9030.83호로 분류하는 것은 부당하다.
나. 처분청 의견
관세율표상 반도체소자에 대한 명백한 정의는 없으나, HS 8541호에 분류되는 "다이오드, 트랜지스터 및 이와 유사한 반도체디바이스"와 HS 8542호에 분류되는 "수개의 반도체소자(트랜지스터, 다이오드 등)를 집적화시킨 집적회로(IC)"가 반도체소자에 해당된다 할 것이고, HS 8533호의 저항(Resistors), HS 8534호의 축전기(Capacitors), HS 8504호의 인덕터(Inductors) 등의 수동소자는 반도체 소자로 볼 수 없다.
검사대상물품인 인쇄회로기판은 트랜지스터, 다이오드, 집적회로(IC) 등의 능동소자와 저항, 콘덴서, 인덕터 등의 수동소자 들을 실장한 것으로서 이를 반도체 소자로는 볼 수는 없는 바, 인쇄회로기판에 장착된 개별 전자부품의 전기적량을 측정하여 양·불량 여부를 검사하는 기기인 쟁점물품은 "반도체웨이퍼나 소자의 측정 또는 검사용 기기"가 분류되는 HS 9030.82호에 분류할 수 없고, "기타의 측정기기"가 분류되는 HS 9030.83호에 분류하여야 한다.
3. 심리 및 판단
가. 쟁 점
쟁점물품(In Circuit Test System)을 "반도체 웨이퍼나 소자의 측정 또는 검사용 기기"로 보아 HSK 9030.82-0000호(양허관세율 0%)에 분류할 것인지 아니면, "기록장치를 갖춘 기타의 측정기"로 보아 HSK 9030.83-0000호(기본관세율 8%)에 분류할 것인지 여부
나. 관계법령
(1) 관세율표
HS 9030 오실로스코우프·스펙트럼분석기와 기타 전기적량의 측정 또는 검사용의 기기(제9028호의 것을 제외한다) 및 알파선·베타선·감마선·엑스선·우주선 또는 기타 전리 선의 검사 또는 검출용의 기기
HS 9030.8 기타의 기기
HS 9030.82-0000 반도체 웨이퍼나 소자의 측정 또는 검사용 기기 (양허관세율 0%)
HS 9030.83-0000 기타(기록장치가 있는 것에 한한다) (기본관세율 8%)
관세율표해석에 관한 통칙 1 : 기재 생략
관세율표 제85류 주
5. 제8541호 및 제8542호에서
가. "다이오드·트랜지스터와 이와 유사한 반도체디바이스"라 함은 전계의 작용에 따른 저항의 변화로 작용을 하는 반도체디바이스를 말한다.
나. "전자집적회로와 초소형조립회로"라 함은 다음의 물품을 말한다.
(1) 모노리식 집적회로 : (생략)
(2) 하이브리드 집적회로 : (생략)
(3) 모울드한 모듈·마이크로 모듈 또는 이와 유사한 형의 초소형 조립회로 : (생략)
(2) 관세율표해설
- 제8541호
여기에는 다음의 것이 포함된다.
(I) 다이오드 : 이것은 단일의 ｐ·n 접합을 가진 것으로 두 개의 터미널을 가진 터미날디바이스이다.(중략)
(Ⅱ) 트랜지스터 전류를 증폭·발진·주파수변환 또는 스윗칭 시킬 수 있는 능력을 가진 3단자소자 또는 4단자소자이다.(중략)
(Ⅲ) 유사한 반도체디바이스 : 여기서 말하는 "유사한" 반도체디바이스라 함은 전계의 적용에 따른 저항율의 변화로 작용을 하는 반도체디바이스를 말한다.
여기에는 다음의 것이 포함된다.
(1) 다이리스터(Thyhstors) : 3개 이상의 pn 접합을 갖는 반도체 물질속에 4개의 전도영역을 이루고 있으며 제어펄스가 전도를 개시하면 미리 정해진 방향으로 직류가 흐른다. 이들은 제어정류기·스윗치 또는 증폭기로서 사용되며, 공통 콜렉터/베이스접합을 갖는 2개의 연동하는 상호보완형 트랜지스터로서 기능하는 것이다.
(2) 트라이액(2방향의 삼극관 다이리스터) : 4개의 pn 접합을 갖는 반도체의 물질속에 5개의 전도영역을 이루고 있으며 제어펄스가 전도를 개시하면 교류가 흐르는 것이다.
(3) 다이액(diacs) : 반도체재료(2개의 pn 접합)속에서 3개의 전도권으로 형성되며, 트라이액을 작동하는데 필요한 펄스를 제공하기 위하여 사용된다.
(4) 바랙터(Varactors)(또는 가변용량 다이오드)
- 제9030호
논리분석기(반도체장치의 다수 부분품으로 구성되는 전기회로를 검사하는데 사용하는 기기)도 이 호에 분류된다.
다. 사실관계 및 판단
(1) 이 건 처분경위는 『1. 처분개요』에 기재된 내응과 같다. 처분청은 쟁점물품이 반도체소자에 해당하지 아니하는 수동소자까지를 검사·측정하는 기기이므로 "기타의 검사·측정기기"가 분류되는 HSK 9030.83-0000호(기본관세율 8%)에 해당한다는 의견이고, 청구법인은 검사대상물품인 인쇄회로기판에 장착된 수동소자는 능동소자를 보정 또는 연결하기 위하여 부수적으로 장착되었고, 반도체소자는 넓은 의미에서 수동소자까지 포함하여야 하므로 인쇄회로기판에 장착된 반도체소자를 단위소자별로 측정·검사하는 기기인 쟁점물품은 HSK 9030.82-0000호(양허관세율 0%)에 분류된다고 주장하고 있어 이에 대하여 살펴본다.
(2) 쟁점물품은 청구법인의 미국본사(Agilent Technologies)가 제조한 측정기기[Agilent 3070 ICT(In Circuit Test) System : E9902C, E9903C]로서 기기 전체를 제어하는 제어부(Industrial PC Controller), 측정대상물품을 실제로 검사하는 검사부(Test Head), 불량소자의 위치 및 불량내용을 출력하는 출력부(Error message Printer), 시험대상물품과 검사부를 상호연결하는 고정부(Fixture) 등으로 구성되어 있으며, 그 기능은 인쇄회로기판에 장착된 능동소자(IC, 트랜지스터, 다이오드등)와 수동소자(저항, 캐패시터, 인덕터 등)를 소자 단위별로 전기적특성 등을 검사하여 오류 또는 결항여부를 자동으로 측정하며 고품질의 제품을 양산하는데 필수적인 장비이다. 실수요자인 ○○○○주식회사 등의 설명에 의하면, 프린터용 인쇄회로기판 검사의 경우에는 장착된 반도체소자(다이오드, 트랜지스터, 프래쉬메모리 등)는 각 소자별로 수십회에서 수십만회 이상 시험검사가 수행되고, 수동소자(저항, 인덕터, 캐패시터 등)는 소자별로 1회의 시험검사를 수행하는 것임을 확인하고 있다.
(3) 관세율표 제9030호에서 "기타의 전기적량의 측정 또는 검사용기기로서 반도체 웨이퍼나 소자의 측정 또는 검사용 기기"는 HSK 9030.82-0000호(양허관세율 0%)에 분류되고, 그 외 "기록장치가 있는 것으로서 기타의 기기"는 HSK 9030.83-0000호(기본관세율 8%)에 분류되는 것으로 규정하고 있으므로 본 건 쟁점의 핵심은 쟁점물품의 측정 또는 검사대상이 반도체소자의 범위에 해당되는지 여부를 가리는데 있다고 할 것이다.
관세율표상 반도체 소자(Semiconductor Device)에 대한 구체적인 정의는 규정되어 있지 않으나, HS 8541호의 용어에는 "다이오드·트랜지스터와 이와 유사한 반도체디바이스 및 감광성 반도체디바이스가 게기되어 있고, HS 8542호의 용어에는 "전자집적회로와 초소형 조립회로"가 게기되어 있으므로 이들을 반도체소자라고 할 수는 있겠으나, 쟁점물품의 주 시험대상은 인쇄회로기판에 장착된 반도체소자(다이오드, 프래쉬메모리 등)이고, 부수적으로 반도체소자의 보정 및 연결등을 위하여 장착된 수동소자(저항, 인덕터, 캐패시터 등)의 전기적 특성을 측정·검사하고 있는 바, 쟁점물품의 품목분류와 관련하여서는 인쇄회로기판에 장착된 능동소자와 수동소자를 포함한 것을 상업상 반도체소자(Semiconductor Device)로 보는 것이 타당하다고 할 것이다.
한편, 청구법인 미국본사의 2002.2.20.자 품목분류질의에 대하여 미국관세청은 2002.8.14. '3070 In Circuit Test'는 기본적으로 반도체디바이스를 검사하는 것으로서 반도체 프로그래밍 및 검사방식은 정교·복잡하고 개별 게이트가 수천개 이상이며, 수동소자는 특성상 단일요소로 검사가 이루어지고, HS 90류의 주 등에 해당 조항의 범위를 정의하고 있지는 않으나 Alan Freedman의 The Coumputer Glossary에 반도체디바이스는 트랜지스터와 같은 기본 부품 또는 칩을 구성하고 있는 전자 장비의 보다 큰 부품이라고 정의되어 있으므로 해당소호와 관련한 반도체디바이스는 반도체 칩이 서로 연결되어 있고, 수동소자가 장착된 기판을 포함하는 것으로 해석하여 쟁점물품을 HS 9030.82호로 분류결정(HQ 965528)하고 이를 회신한 바 있다.
(4) 위 사실관계와 관련규정 및 외국의 분류사례 등을 종합하면, 쟁점물품은 인쇄회로기판에 장착된 반도체 소자(능동소자)의 불량여부를 단위 소자별로 측정·검사하는 것이 주 기능이고, 부수적으로 능동소자의 기능을 보정하거나 이를 연결하기 위하여 능동소자와 함께 인쇄회로기판에 장착된 수동소자의 전기적 특성 등을 소자단위별로 검사할 수 있는 기기로서 HSK 9030.82-0000호(양허관세율 0%)의 "반도체웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사용의 기기"에 분류하는 것이 타당하다고 판단된다.
4. 결 론
이 건 심판청구는 심리결과 청구주장이 이유 있으므로 국세기본법 제81조, 같은 법 제65조 제1항 제3호에 의하여 주문과 같이 결정한다. |
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