| 내 용 |
[주문]
과세전적부심사청구를 채택하지 아니한다.
[이유]
1. 청구경위
가. 청구인은 2004.**.**. 쟁점물품을 "반도체 웨이퍼 또는 레티클의 취급과 이송용으로 특별히 고안된 장치가 부착된 일렉트론 빔 현미경"으로 보아 HSK 9012.10-1010(양허 0%)에 분류하여 통지세관을 통해 수입통관하였다.
나. 그러던 중 관세청장(감사담당관실)은 통지세관에 대한 행정감사 후 쟁점물품을 "기타의 현미경"으로 보아 HSK 9012.10-1090(기본 8%)에 분류하여야 함을 지적하고, 2005.**.**. 차액관세를 징수할 것을 지세관장에게 시정요구하였다.
다. 통지세관장은 2005.**.**. 감사지적사항에 따라 쟁점물품을 지적사항대로 분류하여 청구인에게 세율 차이에 의한 부족 징수 관세 등 82,083,500원을 경정·고지할 예정임을 과세전통지하였다.
라. 청구인은 이에 불복하여 2005.**.**. 이 사건 과세전적부심사청구를 제기하였다.
2. 청구인주장
쟁점물품의 구성요소는 Main FIB 본체에 SEM Column이 하나의 기계로 결합되어 있는데, FIB Main에 2차 검출기(SE Detector)가 있으므로 Electron Beam을 방출하는 FIB Column만 있어도 SEM Imaging기능을 수행한다. 즉, Single FIB Spec에 SEM Column만 결합한 것으로 이해할 수 있고, 중량대비로 보더라도 FIB:SEM은 10:1정도이며, 쟁점물품의 단가요소를 보더라도 전체 시스템의 가격에서 SEM Column은 20%의 정도의 수준밖에 되지 않는다. 따라서 쟁점물품은 하나의 기계로 결합되어 있는 복합기계로 관세법 제16조의 규정과 관세율표해석에관한통칙1 및 통칙3의 나(주 기능에 의한 분류)에 의해 가능한 한 물품의 본질적인 특성을 부여하는 재료 및 구성요소로 구성된 것으로 취급하여 품목분류하여야 한다. 이로 볼 때, 쟁점물품의 주 기능, 사용빈도, 구조와 비교단가 등을 종합하여 판단하면 쟁점물품의 주 기능은 FIB로 보아야 하므로 HSK 8456.99-1000에 분류하는 것이 타당하다. 그러나, 통지세관장은 쟁점물품과 같이 SEM의 장점을 보완적으로 활용하기 위하여 하나의 기계로 결합한 복합기계에 대해 주 기능을 결정할 수 없다고 보수적으로 해석하여 통칙3 다(최종호 분류원칙)를 적용하였는 바, 이는 쟁점물품을 실제 사용하는 청구인의 입장에서는 이해하기 힘든 결정이다. 또한 통지세관장의 의견에 따라 최종호 분류기준인 통칙3 분류기준을 적용하더라도 FIB 기능 중 Detect Analysis 기능도 쟁점물품의 주요 기능의 하나인 바, "기타 광학식의 기기"가 분류되는 HSK 9031.41-9000(양허 0%)도 품목분류 고려대상이 되어야 한다.
3. 통지세관장 의견
쟁점물품인 FIB(Focused Ion Beam) Dual Beam NOVA200은 FIB/SEM (Scanning Electron Microscope) 기능을 복합적으로 수행하는 장비로서 HS 8456호(공작기계)와 HS 9012호(기타 현미경)의 두 기능이 복합된 기기이다. 이러한 2가지 기능을 가진 장비에 대하여 그 주 기능을 판단할 수 있다면 주 기능에 따른 분류를 해야 할 것이고, 판단할 수 없다면 통칙3 ‘다’의 최종호의 분류원칙을 적용해야 할 것이다. 쟁점물품은 불량분석, Circuit Repair, Modification 및 Characterization을 목적으로 Milling, Cutting 등 Cross-Section 기능을 수행함으로써 궁극적으로 반도체 웨이퍼의 특성분석, 측정 및 정확성을 확인·판별하는 기기이다. 이 물품에서 SEM(주사전자현미경)은 전자빔을 이용하여 높은 해상도로 반도체 웨이퍼의 미세구조를 형상화하여 미세한 영역을 보는 것이 가능하도록 해 반도체의 특징을 분석·측정하고 이러한 측정과 관찰, 결함의 파악 등으로 제조공정의 정확성을 확인해 주는 기능을 한다. 여기에서 시료의 식각, 조형, 가공 등의 여부 및 정도는 SEM을 통하여 확인되어 시료의 정확성 여부가 판별되므로 쟁점물품에서 SEM은 가공의 필수불가결한 요소로서 청구인의 주장대로 단순히 가공의 정도를 확인해 주기만 하는 FIB의 보조기능만을 수행한다고 보기 어렵고 쟁점물품의 중요 기능을 수행한다 할 것이다. 즉, HS 8456호에 분류되는 FIB기능과 HS 9012호에 분류되는 SEM기능이 함께 수행되고 두 기능의 경중을 따지기 어려우므로 통칙3 다(최종호 분류원칙)에 의하여 분류하여야 하는 것이 타당하므로 HS 9012.10소호로 분류되며, 웨이퍼 또는 레티클의 취급과 이송용으로 특별히 고안된 장치가 부착되지 않았으므로 HSK 9012.10-1090에 분류되어야 한다. 또한 품목분류를 함에 있어 분리할 수 없는 기기의 일부만을 별도로 보아 그 기능을 판단하는 것이 아니라, 전체물품을 대상으로 주 기능을 판단하여야 하는바, 쟁점물품의 FIB기능과 더불어 Single Beam FIB에는 없는 SEM기능을 수행하므로 그 기능의 경중을 따질 수 없어 본질적인 특성을 판단하여 품목분류할 수 없으므로 최종호 분류원칙을 적용함이 타당하다.
4. 쟁점
이 사건 쟁점은 쟁점물품의 주 기능을 FIB에 있다고 보아 HSK 8456.99-1000(양허 0%)에 분류할 것인지, 아니면 FIB와 SEM 두 기능 중 어느 기능을 주 기능으로 보기 어려운 것으로 보아 후순위 세번인 HSK 9012.10-1090(기본 8%)에 분류할 것인지 여부를 가리는 데 있다.
5. 심리 및 판단
가. 관련규정
1) 관세율표해석에관한통칙3
- 이 통칙 제2호의 나 또는 기타 다른 이유로 동일한 물품이 둘이상의 호에 분류되는 것으로 볼 수 있는 경우의 품목분류는 다음에 규정하는 바에 따른다.
가. "기재 생략"
나. 혼합물, 서로 다른 재료로 구성되거나 서로 다른 구성요소로 제조된 복합물과 소매용으로 하기 위하여 세트로 된 물품으로서 가의 규정에 따라 분류할 수 없는 것은 가능한 한 이들 물품에 본질적인 특성을 부여하는 재료 또는 구성요소로 구성된 것으로 취급하여 분류한다
다. 가 또는 나의 규정에 따라 분류할 수 없는 물품은 동일하게 분류가 가능한 호 중에서 그 순서상 최종호에 분류한다
2) 관세율표해설서 제8456호(해설서 1541쪽)
- 이 호의 공작기계는 각종재료의 성형 또는 표면가공용의 기계이다. 이러한 공작기계는 다음과 같은 3가지 주요 요건을 갖추어져야만 한다.
(ⅰ) 이러한 공작기계는 재료를 제거하는 방법으로 가공하여야 한다
(ⅱ) 이러한 공작기계는 약정된 공구를 갖춘 공작기계에 의하여 이루어지는 작업을 수행하여야 한다.
(ⅲ) 이러한 공작기계는 다음의 7가지 공정중의 하나를 사용하여야 한다 : 레이저 또는 기타광선과 광자빔·초음파·방전·전기화학·전자빔 또는 프라스마아크방식
(F) 이온빔 방식에 의하여 가공하는 공작기계 : 이러한 공작기계의 빔은 레이저 빔의 경우에서와 같이 impulse에 의한 것이 아니고 연속동작에 의하여 작업을 한다
3) 관세율표해설서 제9012호(해설서 1790~1791쪽)
- 이 호에는 다음의 것을 포함한다
(A) 전자현미경 : 광선대신에 전자의 비임(beam)이 사용되는 점에서 광학현미경과는 다르다. 전자현미경의 표준형은 다음의 장치가 일체로서 동일프레임에 내장되어 조립된 것이다
(1) 전자를 방출하고 가속하는 장치(전자총으로 불리운다)
(2) 정전식 또는 전자식의 "렌즈"(전류를 이송하는 대전판 또는 코일)로 구성되는 장치(보통 현미경의 광학장치부분품을 작동하는 것), 이들은 집광기·대물경 및 투영기로서 작용한다. 또한 대물경과 투영기 사이에 소위 Field "렌즈"라고 부르는 것이 하나 더 있으며, 이것은 주사되는 대물의 위치를 변경시키지 않고 확대한도가 변화되도록 해 준다
(3) 시료재물대
(4) 전자관내에 진공을 유지시키는 진공펌프 : 이것은 때때로 기기에 연결시키는 유니트가 자장되어 있다
(5) 상을 형광스크린에 반영시켜 육안으로 관측 및 사진으로 기록하기 위한 기구
이 호에는 주사전자현미경(SEM)도 포함되는데 이것은 매우 정교한 전자의 비임이 반복적으로 시료의 여러 지점에 직사된다. 정보는 예를들면 전송된 전자, 방출된 보조전자 또는 광학선에 의한 계측으로 얻는다. 그 결과가 모니터 스크린상에 나타나게 되는데 모니터 스크린은 현미경과 결합될 수 있다
2) 사실관계
쟁점물품은 Main FIB 본체에 SEM Column이 결합된 형태로 Ion Beam을 웨이퍼 또는 소자의 회로부분에 약하게 조사하면 2차 전자 이온이 발생하는 데 이를 detector로 검출하여 image를 컴퓨터 모니터로 관찰할 있는 Imaging기능과 반도체 웨이퍼 및 소자상에 있는 회로를 이온빔을 조사하여 현미경으로 형상화하여 모니터로 관찰하면서 불량부분에 대하여 milling(깎기), cutting(자르기), deposition(붙임) 등의 작업을 통하여 수정하는 FIB의 기본기능에, SEM Column을 부착하여 높은 해상도로 회로를 관찰할 수 있는 기능이 추가된 것임이 확인된다.
3) 판단
청구인은 쟁점물품의 본질적인 기능이 FIB에 있다고 주장하고, 처분청에서는 쟁점물품이 FIB(Focused Ion Beam)의 기능과 SEM기능을 함께 수행할 수 있도록 고안된 장비로서 두가지 기능중 어느 하나에 본질적인 특성이 있다고 보기 어려우므로 HS 9012호에 분류되어야 한다고 주장하는 바, 이건 품목분류는 쟁점물품의 주기능이 어디에 있는지를 판단하여야 하므로 이에 대하여 살펴보도록 한다.
쟁점물품의 본질적인 특성을 판단함에 있어 가격, 중량 등과 같은 정량적인 요소보다는 성질, 기능, 역할 등을 고려하여야 할 것이고, 가격은 하나의 고려요소는 될 수 있으나 절대적인 판단기준은 될 수 없으며, 제조업체 FEI의 견적서를 보면, 쟁점물품은 SEM기능과 FIB기능이 한 개의 도구(Single tool)로 혼합되어 있는 기기로 하나의 운영시스템과 컴퓨터 그래픽 인터페이스를 갖추고 있으며 고품질의 3D 분석자료를 전달하고자 설계된 수퍼 분석도구로 사용되고 있음이 확인된다. 또한 쟁점물품의 용도가 반도체의 가공, 수정이 주를 이루는 공장용이 아니라, 분석, 검사에 비중을 두는 연구실용으로 제작된 것임을 볼 때, SEM은 단순한 보조기능으로 볼 수 없음이 인정된다. 더구나 SEM Column은 단독으로 SEM Imaging을 할 수 없고 본체에 이 기능을 수행하는 데 필요한 SE Detector 등이 결합되어 함께 SEM기능을 수행함을 볼 때, 기기의 일부만을 분리하는 것보다 전체물품을 대상으로 주 기능을 판단하여야 할 것이다. 따라서 쟁점물품은 반도체 웨이퍼 또는 소자 상에 있는 회로를 현미경으로 형상화하여 모니터로 관찰하면서 불량부분에 대하여 milling(깎기), cutting(자르기), deposition(붙임) 등의 작업을 통하여 수정하는 FIB(Focused Ion Beam)의 기능과 전자빔을 웨이퍼의 회로부분에 조사하여 2차 전자 이온이 발생하는 데 이를 detector로 검출하여 image를 높은 해상도로 회로부분을 관찰할 수 있는 SEM기능을 함께 수행 할 수 있도록 고안된 장비임을 확인할 수 있다.
관세율표 제8456호는 각종 재료의 가공공작기계(레이저 또는 기타광선·광자빔·초음파·방전·전기화학·전자빔·이온빔·플라스마아크방식에 의하여 재료의 일부를 제거하여 가공하는 것에 한한다)가 분류되며, 제9012호는 전자빔을 사용하는 전자현미경이 분류되고 있는 바, 쟁점물품은 HS 8456호에 분류되는 FIB(Focused Ion Beam)의 기능과 HS 9012호에 분류되는 SEM기능을 함께 수행 할 수 있도록 고안된 장비로서 FIB기능과 SEM기능 중 어느 하나에 본질적인 특성이 있다고 보기 어려우므로 통칙3 다의 규정에 의거 HS 9012호에 분류하되, 세분류에 있어 반도체 웨이퍼 또는 레티클의 취급과 이송용으로 특별히 고안된 장치가 부착되어 있지 않으므로 HSK 9012.10-1090에 분류함이 타당한 것으로 판단된다.
6. 결론
그렇다면, 청구인의 주장에 이유가 없으므로 과세전적부심사위원회의 심사를 거쳐 관세법 제118조 제4항의 규정에 의거 주문과 같이 결정한다. |
clhs@clhs.co.kr 
070-4214-8300