90.12 - ±¤ÇÐÇö¹Ì°æ ¿ÜÀÇ Çö¹Ì°æ°ú ȸÀý±â±â(diffraction apparatus)
ÀÌ È£¿¡´Â ´ÙÀ½ÀÇ °ÍÀ» Æ÷ÇÔÇÑ´Ù.(A) ÀüÀÚÇö¹Ì°æ(electron microscope) : ±¤¼± ´ë½Å¿¡ ÀüÀÚÀÇ ºö(beam)À» »ç¿ëÇÏ´Â Á¡¿¡¼ ±¤ÇÐÇö¹Ì°æ°ú´Â ´Ù¸£´Ù. ÀüÀÚÇö¹Ì°æÀÇ Ç¥ÁØÇüÀº ´ÙÀ½ÀÇ ÀåÄ¡°¡ ÀÏü·Î¼ µ¿ÀÏ ÇÁ·¹ÀÓ(frame)¿¡ ³»ÀåµÇ¾î Á¶¸³µÈ °ÍÀÌ´Ù. (1) ÀüÀÚ¸¦ ¹æÃâÇÏ°í °¡¼ÓÇÏ´Â ÀåÄ¡[ÀüÀÚÃÑ(electron gun)À¸·Î ºÒ¸°´Ù] (2) Á¤Àü(ð¡ï³)½ÄÀ̳ª ÀüÀÚ(ï³í¸)½ÄÀÇ "·»Áî(lens)"[Àü·ù¸¦ À̼ÛÇÏ´Â ´ëÀüÆÇ(Óáï³÷ú)À̳ª ÄÚÀÏ]·Î ±¸¼ºµÇ´Â ÀåÄ¡(º¸Åë Çö¹Ì°æÀÇ ±¤ÇÐÀåÄ¡ºÎºÐÇ°À» ÀÛµ¿ÇÏ´Â °Í); À̵éÀº Áý±¤±â¡¤´ë¹°°æ¡¤Åõ¿µ±â·Î¼ ÀÛ¿ëÇÑ´Ù. ¶ÇÇÑ ´ë¹°°æ°ú Åõ¿µ±â »çÀÌ¿¡ ¼ÒÀ§ Çʵå "·»Áî"(field lens)¶ó°í ºÎ¸£´Â °ÍÀÌ Çϳª ´õ ÀÖÀ¸¸ç, ÀÌ°ÍÀº ÁÖ»çµÇ´Â ´ë¹°ÀÇ À§Ä¡¸¦ º¯°æ½ÃÅ°Áö ¾Ê°í È®´ëÇѵµ°¡ º¯ÈµÇµµ·Ï ÇØ ÁØ´Ù. (3) ½Ã·áÀç¹°´ë(ãËÖùî°ÚªÓæ) (4) ÀüÀÚ°ü ³»¿¡ Áø°øÀ» À¯Áö½ÃÅ°´Â Áø°øÆßÇÁ; ÀÌ°ÍÀº ¶§¶§·Î ±â±â¿¡ ¿¬°á½ÃÅ°´Â À¯´ÖÀÌ °®Ãß¾îÁ® ÀÖ´Ù. (5) ¿µ»ó(image)À» Çü±¤½ºÅ©¸°¿¡ ¹Ý¿µ½ÃÄÑ À°¾ÈÀ¸·Î °üÃøÇÏ°í »çÁøÀ¸·Î ±â·ÏÇϱâ À§ÇÑ ±â±¸ (6) ÀüÀÚ ºö(electron beam)À» Á¦¾îÇϰųª Á¶Á¤ÇØ ÁÖ´Â ÀåÄ¡¸¦ ¹ÞÃÄÁÖ´Â ÁÖ´Â Á¦¾î´ë¿Í ÆгΠÀÌ È£¿¡´Â ½ºÄ³´×ÀüÀÚÇö¹Ì°æ(scanning electron microscope)µµ Æ÷ÇԵǴµ¥ ÀÌ°ÍÀº ¸Å¿ì Á¤±³ÇÑ ÀüÀÚÀÇ ºö(beam)ÀÌ ¹Ýº¹ÀûÀ¸·Î ½Ã·áÀÇ ¿©·¯ ÁöÁ¡¿¡ Á÷»çÇÑ´Ù. Á¤º¸´Â ¿¹¸¦ µé¸é, Àü¼ÛµÈ ÀüÀÚ, ¹æÃâµÈ º¸Á¶ÀüÀÚ³ª ±¤Çм±¿¡ ÀÇÇÑ °èÃøÀ¸·Î ¾ò´Â´Ù. ±× °á°ú°¡ ¸ð´ÏÅÍ ½ºÅ©¸° »ó¿¡ ³ªÅ¸³ª°Ô µÇ´Âµ¥ ¸ð´ÏÅÍ ½ºÅ©¸°Àº Çö¹Ì°æ°ú °áÇÕµÉ ¼ö ÀÖ´Ù. ÀüÀÚÇö¹Ì°æÀº ¼ø¼ö°úÇкоß(»ý¹°ÇÐÀ̳ª ÀÇÇÐÀÇ ¿¬±¸¡¤¹°ÁúÀÇ Á¶¼ºÀÇ ±¸¸í µî)¿Í °ø¾÷Àû ºÐ¾ß[¿¬¹«(æÕÙö)¡¤¸ÕÁö¡¤¼¶À¯¡¤ÄÝ·ÎÀ̵å(colloid) µîÀÇ ½ÃÇè; ±Ý¼ÓÀ̳ª Á¾ÀÌ µîÀÇ ±¸Á¶ÀÇ °Ë»ç µî]¿¡¼ ³Î¸® »ç¿ëÇÑ´Ù. (B) ¾çÀÚÇö¹Ì°æ(proton microscope) : ÀÌ°ÍÀº ÀüÀÚ ´ë½ÅÀ¸·Î ÀüÀÚº¸´Ù ÆÄÀåÀÌ 40¹è³ª ªÀº ¾çÀÚ(proton)¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ °ÍÀÌ´Ù. À̸®ÇÏ¿© »ó´çÈ÷ Å« ºÐÇØ ´É·ÂÀÌ ¾ò¾îÁö¸ç ¿µ»ó(image)º¸´Ù ÀÏÃþ È®´ëµÇ¾î º¸ÀδÙ. ¾çÀÚÇö¹Ì°æÀÇ ±¸Á¶¿Í ±â´É¿¡ À־ ÀüÀÚÇö¹Ì°æ°ú Å« Â÷ÀÌ°¡ ¾øÁö¸¸; ´Ù¸¸, ÀüÀÚÃÑÀÌ ¾çÀÚÃÑÀ¸·Î ¹Ù²Ù¾îÁö¸ç ¹ß»ý¿øÀ¸·Î´Â ¼ö¼Ò¸¦ »ç¿ëÇÑ´Ù. (C) ÀüÀÚ È¸Àý±â±â(electron diffraction apparatus) : ÀüÀÚ ºö(beam)À» ½Ã·á¿¡ Á÷»ç½ÃÅ´À¸·Î½á ȸÀý»óÀÌ ³ªÅ¸³ª¸ç ±× »óÀº »çÁøÀ¸·Î ÂïÈù´Ù. °Ë»çµÇ´Â ½Ã·á °áÁ¤(Ì¿ïÜ)ÀÇ Å©±â¡¤¹æÇ⡤¿øÀÚ¹è¿Àº ±× ȸÀý»ó(diffraction pattern)ÀÇ ¸µ(ring)ÀÇ Á÷°æ¡¤°µµ¡¤¼±¸íµµ·ÎºÎÅÍ »êÁ¤µÉ ¼ö ÀÖ´Ù. ȸÀý±â±â(diffraction apparatus)´Â ÁÖ·Î ºÎ½Ä¡¤À±È°¡¤Ã˸ŹÝÀÀ µîÀÇ ¿¬±¸¿¡ »ç¿ëÇÏ´Â °ÍÀ¸·Î¼ ¿ø¸®¿¡ ÀÖ¾î¼ ÀüÀÚÇö¹Ì°æ°ú Å« Â÷ÀÌ°¡ ¾øÀ¸¸ç, °°Àº ¿ä¼Ò[ÀüÀÚÃÑ¡¤À½±Ø¼±°ü¡¤ÀüÀÚ(ï³í¸) ÄÚÀÏ¡¤½Ã·áȦ´õ(specimen holder) µî]¸¦ °®Ãß°í ÀÖ´Ù. ´õ¿íÀÌ ÀüÀÚÇö¹Ì°æ Áß¿¡´Â ȸÀý¿ë üÀÓ¹ö(diffraction chamber)¸¦ °®Ãá °ÍÀÌ ÀÖÀ¸¸ç µû¶ó¼ µÎ °¡ÁöÀÇ ±â´É(À°¾È¿¡ ÀÇÇÑ °üÂû°ú ȸÀý»óÀ» ¾ò´Â °Í)À» ¼öÇà½Ãų ¼ö ÀÖ´Ù´Â °ÍÀ» À¯ÀÇÇØ¾ß ÇÑ´Ù. ºÎºÐÇ°°ú ºÎ¼ÓÇ° ÀÌ ·ùÀÇ ÁÖ Á¦1È£¿Í Á¦2È£ÀÇ ±ÔÁ¤¿¡ ÀÇÇÏ¿©(ÃѼ³ ÂüÁ¶), Çö¹Ì°æ(±¤ÇÐÇö¹Ì°æÀº Á¦¿ÜÇÑ´Ù)À̳ª ȸÀý±â±â(diffraction apparatus)¿¡ Àü¿ë(îöéÄ)Çϰųª ÁÖ·Î »ç¿ëÇϴµ¥ ÀûÇÕÇÑ ºÎºÐÇ°°ú ºÎ¼ÓÇ°µµ ÀÌ È£·Î ºÐ·ùÇÑ´Ù]; ¿¹¸¦ µé¸é, ÇÁ·¹ÀÓ(frame)°ú ±× ±¸¼º üÀÓ¹ö(chamber)¿Í ½Ã·áÀç¹°´ë(ãËÖùî°ÚªÓæ : specimen stage)¸¦ µé ¼ö ÀÖ´Ù. ÀÌ¿¡ ¹ÝÇÏ¿© Áø°øÆßÇÁ(Á¦8414È£)¡¤Àü±â±â±â(¹èÅ͸®¡¤Á¤·ù±â µî)(Á¦85·ù)¡¤Àü±â½Ä °èÃø±â±â[Àü¾Ð°è(voltmeter)¡¤¹Ð¸®¾ÏÆä¾î°è(milliammeter) µî](Á¦9030È£)´Â ÀÌ È£¿¡¼ Á¦¿ÜÇÑ´Ù.
|