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90.12 - 광학현미경 외의 현미경과 회절기기(diffraction apparatus)
[호해설]
이 호에는 다음의 것을 포함한다. (A) 전자현미경(electron microscopes) : 광선 대신에 전자의 빔(beam)을 사용하는 점에서 광학현미경과는 다르다.
전자현미경의 표준형은 다음의 장치가 일체로서 동일 프레임(frame)에 내장되어 조립된 것이다. (1) 전자를 방출하고 가속하는 장치[전자총(electron gun)으로 불린다] (2) 정전(靜電)식이나 전자(電磁)식의 "렌즈(lenses)"[전류를 이송하는 대전판(帶電版)이나 코일]로 구성되는 장치(보통 현미경의 광학장치부분품을 작동하는 것); 이들은 집광기·대물경·투영기로서 작용한다. 또한 대물경과 투영기 사이에 소위 필드 "렌즈"(field lens)라고 부르는 것이 하나 더 있으며, 이것은 주사되는 대물의 위치를 변경시키지 않고 확대한도가 변화되도록 해 준다. (3) 시료재물대(試料載物臺) (4) 전자관 내에 진공을 유지시키는 진공펌프; 이것은 때때로 기기에 연결시키는 유닛이 갖추어져 있다. (5) 영상(image)을 형광스크린에 반영시켜 육안으로 관측하고 사진으로 기록하기 위한 기구 (6) 전자 빔(electron beam)을 제어하거나 조정해 주는 장치를 받쳐주는 주는 제어대와 패널
이 호에는 스캐닝전자현미경(scanning electron microscope)도 포함되는데 이것은 매우 정교한 전자의 빔(beam)이 반복적으로 시료의 여러 지점에 직사한다. 정보는 예를 들면, 전송된 전자, 방출된 보조전자나 광학선에 의한 계측으로 얻는다. 그 결과가 모니터 스크린 상에 나타나게 되는데 모니터 스크린은 현미경과 결합될 수 있다.
전자현미경은 순수과학분야(생물학이나 의학의 연구·물질의 조성의 구명 등)와 공업적 분야[연무(煙霧)·먼지·섬유·콜로이드(colloid) 등의 시험; 금속이나 종이 등의 구조의 검사 등]에서 널리 사용한다. (B) 양자현미경(proton microscopes) : 이것은 전자 대신으로 전자보다 파장이 40배나 짧은 양자(proton)를 이용한 것이다. 이리하여 상당히 큰 분해 능력이 얻어지며 영상(mage)보다 일층 확대되어 보인다.
양자현미경의 구조와 기능에 있어서는 전자현미경과 큰 차이가 없다.; 다만, 전자총이 양자총으로 바꾸어지며 발생원으로는 수소를 사용한다. (C) 전자 회절기기(electron diffraction apparatus) : 전자 빔(beam)을 시료에 직사시킴으로써 회절상이 나타나며 그 상은 사진으로 찍힌다. 검사되는 시료 결정(結晶)의 크기·방향·원자배열은 그 회절상의 륜(輪)의 직경·강도·선명도로부터 산정될 수도 있다.
회절기기(diffraction apparatus)는 주로 부식·윤활·접촉반응 등의 연구에 사용하는 것으로서 원리에 있어서 전자현미경과 큰 차이가 없으며, 같은 요소(전자총·음극선관·전자코일 시료대 등)를 갖추고 있다. 더욱이 전자현미경 중에는 회절용 체임버(diffraction chamber)를 갖춘 것이 있으며 따라서 두 가지의 기능(육안에 의한 관찰과 회절상을 얻는 것)을 수행시킬 수 있다는 것을 유의해야 한다.
부분품과 부속품
이 류의 주 제1호와 제2호의 규정에 의하여(총설 참조), 현미경에 전용되거나 주로 사용하는 것으로 적합한 부분품과 부속품도 이 호로 분류한다[광학현미경이나 회절기기(diffraction apparatus)는 제외한다].; 예를 들면, 프레임(frame)과 그 구성 체임버(chamber)와 시료재물대(試料載物臺 : specimen stage)는 이 류에 분류한다. 이에 반하여 진공펌프(제8414호)·전기기기(배터리·정류기 등)(제85류)·전기식 계측기기[전압계{voltmeters}·밀리아미터(milliammeters) 등](제9030호)는 이 호에서 제외한다.
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