9030-39, 89
전자파 측정기, 전자파 측정기 노이즈 소스 또는 전자파 내성 시험기
다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다.
1. 최대 1기가헤르츠(GHz) 이상의 주파수를 측정할 수 있는 것
2. 방사성(Radiated) 전자파 내성(EMS, Electromagnetic Susceptibility) 시험기로서 10킬로헤르츠(kHz) 이상의 전류를 인가할 수 있는 것
3. 10킬로헤르츠(kHz) 이상의 간섭주파수 측정이 가능한 것
4. 고조파(Harmonics) 또는 플리커(Flicker) 측정이 가능한 것
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태양전지 파장별 응답 특성 측정 시스템(Solar Cell Spectral Response Measurement System)
다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다.
1. 분광기(Spectrometer)를 포함하는 것으로서 태양광을 모사(模寫)할 수 있는 광원을 탑재한 것
2. 파장별 측정 간격이 10나노미터(nm) 이상인 것
3. 156밀리미터(mm) x 156밀리미터(mm) 이상의 태양전지 전면적에 대하여 측정이 가능한 것
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기록계
전류, 전압, 전력, 신호, 소음, 속도, 압력 또는 온도를 기록하기 위한 것으로서 4채널 이상인 것으로 한정한다.
네트워크 분석기, 회로망 분석기 또는 임피던스 분석기
다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다.
1. 최대 측정 주파수가 100메가헤르츠(MHz) 이상인 것
2. 동축케이블 연구용으로서 100메가헤르츠(MHz) 이상의 고주파 대역에서 선로의 전기적 특성을 측정할 수 있는 것
3. 포트 수가 2개 이상인 것으로서 주파수 범위가 5킬로헤르츠(kHz) 이상인 것
4. 고주파를 반도체 소자에 인가하여 소자의 주파수 특성 및 임피던스(Impedance)를 분석할 수 있는 것
논리회로 분석기
다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다.
1. 아날로그 신호를 측정할 수 있는 것
2. 최대 측정 주파수가 100메가헤르츠(MHz) 이상인 것
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