9030-39
고주파유전율 측정기
공동공진(空洞共振, Cavity Resonance) 방식을 통한 고주파(高周波) 유전특성을 측정하는 것으로서 섭동법(攝動法, The method of perturbation)에 의하여 유전특성을 측정하는 것으로 한정한다.
9030-39, 82, 84, 89
반도체소자 측정기, 반도체소자 분석기 또는 소스미터(Source Meter)
다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다.
1. 평판디스플레이 박막 트랜지스터(TFT, Thin Film Transistor) 소자의 전기적 특성을 측정할 수 있는 것
2. 전압 및 전류의 값을 측정이 가능하거나 분석이 가능한 것
3. 전류 측정 해상도가 1피코암페어(fA)인 것으로서 정확도가 15피코암페어(fA)이고 최대값이 100밀리암페어(mA)인 것
4. 전압 측정 해상도가 0.5마이크로볼트(uV)인 것으로서 정확도가 120마이크로볼트(uV)이고 최대값이 100볼트(V)인 것
5. 정전전압(CV) 측정범위가 1킬로헤르츠(kHz) 이상 5메가헤르츠(MHz) 이하인 것
9030-39
벡터회로망 분석기(Vector Network Analyzer)
다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다.
1. 주파수 영역이 10기가헤르츠(GHz) 이상의 고주파 영역을 포함한 것
2. S 파라미터(S-Parameter)의 측정이 가능한 것
3. 진폭 및 위상을 모두 측정할 수 있는 것
4. 공동공진(空洞共振) 방식의 유전율(誘電率) 측정시스템과의 연결이 가능한 것
9030-39
이온마이그레이션 평가시스템(Ion Migration Evaluation System)
다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다.
1. 측정 채널이 150개인 것
2. 스트레스 측정시 전압이 1볼트(V)에서 100볼트(V)까지 측정 가능하거나 또는 0.1볼트씩 전압 조절이 가능한 것
3. 저항 측정범위가 1볼트(V) 이상 100볼트(V) 이하의 전압하에서 2x103옴(Ω) 이상 1x1013옴(Ω) 이하까지 측정 가능한 것
4. 전원 공급기의 용량이 단상 220 볼트(V)인 것
전력계통 시뮬레이터용 연산카드 및 전력계통시뮬레이터용 인터페이스카드
다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다.
1. 컴퓨터 제어 방식인 것으로서 병렬연산이 가능한 것
2. 연결할 수 있는 인터페이스 카드(Interface Card)의 수가 5개 이상인 것
3. 통신 포트(Port)의 수가 6개 이상인 것
4. 아날로그 및 디지털 입출력이 가능한 것
5. 광절연(Optical Isolation) 입출력장치를 이용하여 외부기기와 간섭차폐가 가능한 것
| ▌[1]... ◀ 21[22][23][24][25][26][27] |
 |